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      奧影科普 | X射線檢測設備的核心部件—探測器

      更新時間:2024-07-17點擊次數(shù):1442

      測器是X射線檢測設備中的核心部件之一,是成像的必要組成部分。從過去傳統(tǒng)應用的X射線膠片,到如今數(shù)字化圖像的廣泛普及,射線檢測技術經(jīng)歷了模擬成像技術和數(shù)字成像技術兩個階段。數(shù)字成像技術的出現(xiàn),特別是數(shù)字平板探測器的廣泛應用,極大地推動了射線檢測技術的數(shù)字化進程。

      一、探測器的作用

      我們知道,X射線是一種不可見光,而探測器的主要作用就是將不可見的X射線轉化為可見的圖像,以便人們能夠直觀地觀察和分析物體內部結構。它通過感應穿過物體的X射線強度,并根據(jù)不同部位X射線的強度差異,以黑白值(灰度等級值)的形式呈現(xiàn)出物體內部的詳細圖像。


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      二、常見數(shù)字探測器

      在結構和應用場景上區(qū)分,數(shù)字化X射線探測器可以分為線陣探測器和(面陣)平板探測器。

        平板數(shù)字探測器


      平板數(shù)字探測器,也被稱為面陣探測器,是目前數(shù)字化X射線成像系統(tǒng)中應用較為廣泛的一種類型。它采用大面積的半導體材料,通過閃爍體和光電二極管陣列等結構,將X射線轉換為可見光,再轉換為電信號,最后形成數(shù)字圖像。


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      平板探測器采用全像式(全面輻射)探測,X射線從不同方向通過被檢測物體,探測器可以接收整個掃描范圍內的信號。

      線陣數(shù)字探測器



      線陣探測器是由多個探測單元排列在一條直線上的小型探測器,形成一個線性陣列。線陣探測器是采用逐點掃描(點射線)的方式捕獲圖像,線陣中的探測器逐個掃描被檢測物體,形成點射線的方式進行檢測。


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      線陣列探測器與平板探測器在結構上的不同,使得其成像散射小、具有較高的對比度靈敏度和空間分辨率。但線陣探測器具有對機械傳動要求更高,成像速度慢,檢測效率較低,射線劑量要求較高等方面的問題。
      值得一提的是,除了平板探測器、線陣探測器以外,為了追求更高的(納米級)空間分辨率,演化出利用光學放大物鏡耦合的探測器組件,這類組件由閃爍體、光學鏡頭和高分辨CCD相機組成。是通過光學物鏡,對X射線激發(fā)閃爍體產(chǎn)生的可見光圖像進行二次放大,再通過CCD相機采集可見光型號,從而實現(xiàn)更高分辨的成像。必然導致光耦和物鏡探測器系統(tǒng)的檢測效率大幅降低,適用場景也相對有限。
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      三、平板數(shù)字探測器

      作為應用很廣泛的平板探測器,在成像方式上又可以分為幾種主要類型,包括:

        非晶硅平板數(shù)字探測器

      非晶硅(A-Si)平板數(shù)字探測器其實也是間接數(shù)字化X線成像。其表面是一層閃爍體材料(如碘化銫或硫氧化釓),當X射線穿過物體并擊中閃爍體時,會轉化為可見光圖像??梢姽鈭D像的下一層非晶硅光電二極管陣列將其轉化為電信號圖像,隨后,對電信號逐行取樣轉換為數(shù)字信號,然后傳給計算機構成X射線數(shù)字圖像。


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      優(yōu)點:
      1.CsI晶體針狀結構,極大地提高了光電轉化效率;
      2.X射線圖像灰度值分辨率和黑白對比度更強;
      3.非晶硅陣列采用的是并聯(lián)電路,單像素壞點不影響整板的正常工作;
      4.產(chǎn)品壽命和掃描效率方面會相對更優(yōu)一些。
      缺點:
      當檢測系統(tǒng)的幾何放大倍數(shù)不足時,由于單個像素尺寸大約為100μm,微小的缺陷可能無法在一個像素點上形成足夠的成像,從而導致這些缺陷無法被成功檢測到。

      CMOS平板數(shù)字探測器


      CMOS平板數(shù)字探測器結合了CMOS集成電路技術與X射線成像技術。它首先通過熒光材料,將X射線轉換為可見光圖像,可見光圖像下的一層CMOS感光成像器件將光信號轉換為電信號。對電信號逐行取樣轉換為數(shù)字信號,然后傳給計算機構成X射線數(shù)字圖像。


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      優(yōu)點:
      1.像素小到50μm~70μm,可以幫助提高系統(tǒng)最小缺陷檢測能力;
      2.圖像在探測器壽命初期銳利度高,視覺效果較佳。
      缺點:
      1.CMOS結構的光電轉化效率低;
      2.像素小,必然會導致探測器信噪比低,圖像灰度值和黑白對比度差;
      3.CMOS光電二極管陣列電路是串聯(lián)電路,圖像上容易出現(xiàn)黑色死線;
      4.X射線長時間照射下老化快,壽命短。


      CCD探測器

      CCD探測器的結構主要是由17英寸x17英寸的閃爍屏,反射鏡面,鏡頭和CCD感光芯片構成。其原理是閃爍屏經(jīng)X射線曝光后,將X射線光子轉換成可見光,可見光被反射鏡面反射,然后通過鏡頭聚焦將可見光投射到CCD芯片上,CCD芯片再將可見光轉換成電信號,最終獲得數(shù)字化圖像,CCD探測器的DR屬于間接能量轉換方式。


      CCD探測器相較于非晶硅平板探測器來說成像質量要差一些。且感光靈敏度不高,光電轉換效率往往低于30%。但是隨著CCD成像感光器件的技術不斷行不和提高,CCD探測器的圖像質量也在逐步發(fā)展提高。過去比較高昂的成本也在不斷地降低。




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